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Micron《微米》 (官网投稿)

简介
  • 期刊简称MICRON
  • 参考译名《微米》
  • 核心类别 SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录(维普), 知网外文库,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-MICROSCOPY显微镜技术。期刊致力于所有涉及显微镜新技术应用或以先进显微技术为核心的研究。刊载关于显微学与微分析的设计、方法、应用、实践或理论的学术论文,涵盖光学显微、电子束成像、X射线显微断层扫描、离子显微及扫描探针成像等领域的成果报告。展开更多

主要研究方向:

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工程技术-MICROSCOPY显微镜技术。期刊致力于所有涉及显微镜新技术应用或以先进显微技术为核心的研究。刊载关于显微学与微分析的设计、方法、应用、实践或理论的学术论文,涵盖光学显微、电子束成像、X射线显微断层扫描、离子显微及扫描探针成像等领域的成果报告。

Micron《微米》(月刊). Micron is an interdisciplinary forum for all work that involves new applications of microscopy or where advanced m...[显示全部]
征稿信息

万维提示:

1、投稿方式:在线投稿。

2、期刊网址:

https://www.sciencedirect.com/journal/micron

3、投稿网址:https://submit.elsevier.com/JMIC

4、期刊刊期:月刊,一年出版12期。

2026116日星期五


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