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第六届电子与电路国际研讨会(ECC_D 2021)

发布时间:2021/2/22 10:49:40 作者:akame 阅读:511

会议官网:https://www.seminarjan.org/conference/ECC_D2021/

会议时间:2021年12月24日

截稿时间:2021年12月26日

会议地点:三亚亚太国际会议中心暨三亚海航度假酒店

收录检索: CNKI

第六届电子与电路国际研讨会(ECC_D 2021)

The 6th Electronics and Circuits Conference (ECC_D 2021) 

 

官网:https://www.seminarjan.org/conference/ECC_D2021/

 

时间:2021年12月24-26日

 

地点: 三亚亚太国际会议中心暨三亚海航度假酒店

 

在线投稿:

https://www.seminarjan.org/RegistrationSubmission/default.aspx?ConferenceID=1435

 

邮箱投稿:conf_contact@163.com 

 

大会简介:

第六届电子与电路国际研讨会(ECC_D 2021)将于2021年12月24-26日在三亚举行。本届大会将继续遵循学术性、国际性的原则,特邀国内外电子与电路领域内的学者专家前来参会,并做出精彩的报告。ECC 2021旨在打造一场交流分享最新科研成果和研究方法的学术盛宴!诚邀各位专家和代表的参加。  

 

出版与检索:

出版物:所有被会议录用的英文稿件将会发表在开源期刊上, 更多详情请与我们联系 (conf_contact@163.com )

检索类型:知网及谷歌学术收录

注:如果您只是参会作报告,不需要发表文章,您只需要将您的摘要提交到投稿系统

 

参会方式:

1、全文参会;参会+全文发表+摘要,一篇录用文章允许一名作者参会,并做10-15分钟口头报告

2、摘要参会:参会+摘要报告,投递摘要并参会,做10-15分钟口头报告

3、海报展示:参会+摘要,投递摘要,申请海报展示

4、听众参会:不投稿仅参会

5、特邀嘉宾:45分钟主题报告

 

联系方式:

电子邮箱: conf_contact@163.com 

联系电话: +86 15527426990

QQ: 1349406763 

微信: 3025797047

Twitter: conf_Committee

 

大会议题:

该会议征文涉及领域包括(但不限于):

Analog Circuits and Signal Processing
Bioengineering Circuits and Systems 
Biomedical Circuits and Systems
Circuit & System Design
Circuits and Systems for Communications 
Circuit Simulation & Modeling
Compound Semiconductor Devices and Circuits
Digital Circuits and Signal Processing 
Device Simulation & Modeling
Digital Communications
Emerging Technologies (Nano, MEMS) 
Electronic Design Automation Methodologies
Harvesting/Scavenging Energy Circuits
Integrated Circuit and System Design
Low-Power and Harvesting Techniques 
Low-Power, RF Devices & Circuits
Linear & Nonlinear Circuits and Systems 
Multimedia Systems and Signal Processing 
Neural Network Circuits and Systems 
Nanoelectronic Circuits and Nanoarchitectures
Nano-Electronics/Fabrication/Structures
Photonic and Optoelectronic Circuits 
Power and Energy Circuits and Systems
Power Electronics and Applications
RF and Wireless Circuits and Systems
Sensing and Sensor Networks 
Test and Reliability 
VLSI Systems, Applications and Computer Aided Network Design
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