2024年第四届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2024）
会议官网：https://ais.cn/u/mAvmIz
会议时间：2024年12月13日
截稿时间：2024年12月10日
会议地点：长沙
收录检索： EI、 IEEE_Xplore、 Ei_Compendex
主办方：湖南师范大学
截稿时间：以官网信息为准
大会时间：2024年12月13-15日
大会地点：中国-长沙
审稿流程：先投稿，先送审，先录用
收录检索：EI, Scopus【往届均已EI检索-已确定ISSN号】
主办单位：湖南师范大学
征稿主题
1、检测技术
2、智能系统
3、自动测控系统
4、其他相关主题均可【点击】
*现场可领取会议资料（如纪念品、参会证明等），（获取咨询）投稿参会优惠、优先审核！
论文出版
所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿，最终所有录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版，见刊后由出版社提交至 EI Compendex, Scopus 检索，目前该出版社EI检索稳定。
1、线下参会提供会议定制伴手礼+精美茶歇+会议期间三餐；
2、会议汇聚国内外顶尖专家和学者，分享前沿热点，阵容鼎盛、不容错过；
3、一篇录用文章允许一名作者免费参会并进行口头报告/海报展示【免费参会报名】