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IEEE Design & Test《IEEE设计与测试》 （官网投稿）

简介
  • 期刊简称IEEE DES TEST
  • 参考译名《IEEE设计与测试》
  • 核心类别 SCIE核心, 目次收录（维普）,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气

主要研究方向：

等待设置主要研究方向
工程技术-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气

IEEE Design & Test《IEEE设计与测试》（双月刊）. IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods and tools used to ...[显示全部]
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1、投稿方式：在线投稿。

2、期刊网址：

https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6221038

3、投稿网址：

https://ieee.atyponrex.com/journal/dandt

4、期刊刊期：双月刊，一年出版6期。

2025年6月19星期四


IEEE Design & Test《IEEE设计与测试》相关杂志

IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS《IEEE计算机汇刊》

IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS《IEEE超大规模集成电路与系统汇刊》

Journal of Circuits, Systems and Computers（或：JOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS AND COMPUTERS）《电路、系统与计算机杂志》

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