2023年第三届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2023）

第三届检测技术与智能系统国际学术会议（DTIS 2023）将于2023年12月22-24日在中国芜湖举行。DTIS 2023会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术，了解学术发展趋势，拓宽研究思路，加强学术研究和探讨，促进学术成果产业化合作的平台。大会诚邀国内外高校、科研机构专家、学者，企业界人士及其他相关人员参会交流。

会议官网：www.icdtis.org （更多会议详情）

大会时间：2023年12月22-24日

大会地点：中国·芜湖

截稿时间：以官网信息为准

收录检索：EI, Scopus【独立出版，EI稳定检索，会议检索历史好！】 

主办单位：智能装备质量与可靠性安徽省重点实验室、安徽工程大学机器人现代产业学院

协办单位：芜湖赛宝机器人产业技术研究院有限公司、安徽工程大学

支持单位：南开大学、上海大学、江苏大学、西安交通大学

EI会议论文出版

所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿，最终所有录用的论文将由EI期刊Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版，见刊后由出版社提交至 EI Compendex, Scopus 检索，目前该出版社EI检索稳定。

◆会议仅接受全英稿件，论文不得少于4页，论文模板【下载】

征稿主题 

（一）检测技术

微机测控装置与系统
传感技术与应用
自动检测与转换技术
电路基础
工业分析技术
无损探伤
测量仪器与仪表
传感器与自动检测
计量技术

（二）智能系统

机器人传感和数据融合
系统建模和识别
智能故障检测与诊断
计算机控制
智能机器人
人机交互技术
计算机视觉
自然语言处理
控制原理
数据分析与大数据挖掘

（三）自动测控系统
智能化测控技术
非接触测量
仪表智能化技术
现代控制技术
测控系统与诊断技术

（四）其他相关主题均可投稿，点击查看【官网CFP】

参会方式（注：会议有主讲报告、口头报告及海报展示环节）

1、作者参会：一篇录用文章允许一名作者免费参会；

2、主讲嘉宾：申请主题演讲，由组委会审核；

3、口头演讲：申请口头报告，时间为15分钟；

4、海报展示：申请海报展示，A1尺寸，彩色打印；

5、听众参会：只参会听讲，也可申请参与演讲及展示。

注：投稿作者免费参会；团队投稿或参会，可享最大优惠！【点击领取】