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Journal of Electronic Testing-Theory and Applications《电子测试杂志:理论与应用》 （官网投稿）

简介
  • 期刊简称J ELECTRON TEST
  • 参考译名《电子测试杂志:理论与应用》
  • 核心类别 SCIE核心, EI 外国期刊, 目次收录（维普）, 知网外文库,外文期刊,
  • IF影响因子
  • 自引率
  • 主要研究方向工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气。涵盖范围包括但不限于以下主题：VLSI器件、印刷电路板及电子系统测试；模拟与数字电子电路测试；微处理器、存储器及信号处理器件测试；故障建模；测试生成；故障模拟；可测试性分析；可测试性设计；可测试性综合；内建自测试；测试规范；容错技术；硬件形式验证；验证仿真；设计调试；测试与诊断的人工智能方法及专家系统；自动测试设备；测试夹具；电子束测试系统；测试编程；测试数据分析；测试经济学；质量与可靠性；CAD工具；晶圆级集成器件测试；可靠系统测试；制造良率与良率提升设计；失效模式分析与工艺改进。展开更多

主要研究方向：

等待设置主要研究方向
工程技术-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：电子与电气。涵盖范围包括但不限于以下主题：VLSI器件、印刷电路板及电子系统测试；模拟与数字电子电路测试；微处理器、存储器及信号处理器件测试；故障建模；测试生成；故障模拟；可测试性分析；可测试性设计；可测试性综合；内建自测试；测试规范；容错技术；硬件形式验证；验证仿真；设计调试；测试与诊断的人工智能方法及专家系统；自动测试设备；测试夹具；电子束测试系统；测试编程；测试数据分析；测试经济学；质量与可靠性；CAD工具；晶圆级集成器件测试；可靠系统测试；制造良率与良率提升设计；失效模式分析与工艺改进。

Journal of Electronic Testing-Theory and Applications《电子测试杂志:理论与应用》（双月刊）. The Journal of Electronic Testing, the only journal specifically dedica...[显示全部]
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1、投稿方式：在线投稿。

2、期刊网址：https://link.springer.com/journal/10836

3、投稿网址：

https://submission.nature.com/new-submission/10836/3

4、官网邮箱：agrawvd@auburn.edu（主编）

（更多编辑邮箱见期刊官网信息）

5、期刊刊期：双月刊，逢双月出版。

2025年12月23日星期二


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